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luwei_6

铜虫 (小有名气)

[交流] 【请教】荧光分光光度计会明显受到样品反射的影响?已有2人参与

我们的仪器是LS55,测试材料是以硅片为衬底的溅射薄膜材料,镜面反射能力较强而发光能力比较弱。
    测试的时候在许多波长范围内会出现和所设定入射光波长几乎相同的一个剑形的明显的尖锐最强峰或者第二强峰,如果不加滤光片还有其倍频或者1/2频第二强或者最强的尖锐峰,一些样品并非是个尖峰而是比较宽(十几个nm宽度)两端尖锐突起的平顶峰。比如设定激发波长为300nm,则发光光谱可能会在299.49nm出现一个最强峰且强度很大,并且在约600nm处会出现第二强的倍频峰。
    出现这种现象的激发光波段很宽,而只有少数几个波段不会出现。请问这种发光谱出现和激发光波长相同的强峰的现象是样品反射激发光造成的吗?要怎么将它除去?
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wujinji

金虫 (正式写手)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
如果不影响你的发射光谱可以不理会,如果有需要可以加上适当的滤光片。
2楼2010-04-09 12:41:41
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luwei_6

铜虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by wujinji at 2010-04-09 12:41:41:
如果不影响你的发射光谱可以不理会,如果有需要可以加上适当的滤光片。

多谢!是在发射端和接收端同时加滤光片来将反射光和倍频光滤掉吗?
3楼2010-04-09 12:52:42
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luwei_6

铜虫 (小有名气)

刚刚做了个样品拿去测,预扫描有两大段平顶峰,大概占了激发光波长范围200—800nm的3/5以上……
4楼2010-04-09 17:24:27
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