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yangzhangfu金虫 (正式写手)
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【求助】用DM测量晶格间距与卡片对不上
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| 我用DM自带的测量工具量取单相alpha-sialon（在XRD中未能发现其他相）晶面距，测量最大值为0.617nm（应该对应于其（100）晶面），然而，发现最大晶面距为0.67nm,差距较大。为了验证是否正确，傅里叶变换后获得的最大晶面距与测量一致，而且还得到其他晶面距，但是与标准卡片都对不上，数据相差太大。于是，猜想可能是其他相（XRD未能检出），便找到其他不同晶粒和另一个单相alpha-sialon上的晶格条纹来测，最大晶面距与上面的值相似，但是都与标准值0.67nm相差太大，这是什么原因呢，请各位大虾支支招。 |
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