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yangzhangfu

金虫 (正式写手)

[交流] 【求助】用DM测量晶格间距与卡片对不上

我用DM自带的测量工具量取单相alpha-sialon(在XRD中未能发现其他相)晶面距,测量最大值为0.617nm(应该对应于其(100)晶面),然而,发现最大晶面距为0.67nm,差距较大。为了验证是否正确,傅里叶变换后获得的最大晶面距与测量一致,而且还得到其他晶面距,但是与标准卡片都对不上,数据相差太大。于是,猜想可能是其他相(XRD未能检出),便找到其他不同晶粒和另一个单相alpha-sialon上的晶格条纹来测,最大晶面距与上面的值相似,但是都与标准值0.67nm相差太大,这是什么原因呢,请各位大虾支支招。
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zhangquan8385

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小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
化学小工(金币+1):鼓励讨论,这是个常见的问题 2010-03-11 23:07
标准卡片也是人做出来的啊,条件不一样,结果就不一样吧
2楼2010-03-11 22:19:52
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yangzhangfu

金虫 (正式写手)

应该不是这个原因,不但与标准卡片不一致,与实际晶格常数测定得到的d值也不一样。
3楼2010-03-12 08:57:33
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化学小工

木虫 (正式写手)


小木虫(金币+0.5):给个红包,谢谢回帖交流
引用回帖:
Originally posted by yangzhangfu at 2010-03-12 08:57:33:
应该不是这个原因,不但与标准卡片不一致,与实际晶格常数测定得到的d值也不一样。

仪器校准了吗?另材料一样吗?
有问题可以联系我QQ676869820
4楼2010-03-12 09:05:37
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yangzhangfu

金虫 (正式写手)

晶格常数测定是通过Si校正过的,应该没问题,难道会是测试时老师把DM3文件上的倍数弄错了导致标尺不对?
5楼2010-03-12 11:12:02
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