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【资源】Atomic Force Microscopy in Process Engineering经典无重复
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Atomic Force Microscopy in Process Engineering . Introduction .2 The atomic force microscope .3 Cantilevers and probes 1.3.1 Effect of Probe Geometry .4 Imaging modes 1.4.1 Contact Mode Imaging 1.4.2 Intermittent Contact (Tapping) Mode 1.4.3 Non-Contact Mode 1.4.4 Force Volume Imaging 1.4.5 Force Modulation Mode 1.4.6 Lateral/Frictional Force Mode .5 The afm as a force sensor .6 Calibration of afm microcantilevers 1.6.1 Calibration of Normal spring Constants 1.6.2 Calibration of Torsional and Lateral spring Constants .7 Colloid probes abbreviations and symbols References 》》》》》》》》》》》》》》》》 下载地址： http://d.namipan.com/d/b5f1ddf0d ... ba65b2b8f08bd0e8200 http://d.namipan.com/d/b5f1ddf0d ... ba65b2b8f08bd0e8200 http://d.namipan.com/d/b5f1ddf0d ... ba65b2b8f08bd0e8200 下载正常，祝大家工作愉快。 http://d.namipan.com/d/b5f1ddf0dfe28ce6fed90326a6339ba65b2b8f08bd0e8200 [ Last edited by zjys5887 on 2009-9-1 at 06:52 ] |
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