| 查看: 901 | 回复: 4 | ||
| 【奖励】 本帖被评价4次，作者zjys5887增加金币 3.5 个 | ||
| 当前主题已经存档。 | ||
[资源]
【资源】Atomic Force Microscopy in Process Engineering经典无重复
|
||
|
Atomic Force Microscopy in Process Engineering . Introduction .2 The atomic force microscope .3 Cantilevers and probes 1.3.1 Effect of Probe Geometry .4 Imaging modes 1.4.1 Contact Mode Imaging 1.4.2 Intermittent Contact (Tapping) Mode 1.4.3 Non-Contact Mode 1.4.4 Force Volume Imaging 1.4.5 Force Modulation Mode 1.4.6 Lateral/Frictional Force Mode .5 The afm as a force sensor .6 Calibration of afm microcantilevers 1.6.1 Calibration of Normal spring Constants 1.6.2 Calibration of Torsional and Lateral spring Constants .7 Colloid probes abbreviations and symbols References 》》》》》》》》》》》》》》》》 下载地址： http://d.namipan.com/d/b5f1ddf0d ... ba65b2b8f08bd0e8200 http://d.namipan.com/d/b5f1ddf0d ... ba65b2b8f08bd0e8200 http://d.namipan.com/d/b5f1ddf0d ... ba65b2b8f08bd0e8200 下载正常，祝大家工作愉快。 http://d.namipan.com/d/b5f1ddf0dfe28ce6fed90326a6339ba65b2b8f08bd0e8200 [ Last edited by zjys5887 on 2009-9-1 at 06:52 ] |
回复此楼» 猜你喜欢
越来越担心硕士毕业后没有竞争力了
已经有14人回复
-
论文的挂名怎么评判贡献？基金申请中，排名第一的挂名文章
已经有3人回复
-
申博自荐 2篇一区TOP+1篇EI+2公开发明专利 2027博士申请
已经有3人回复
-
闲聊
已经有6人回复
-
申博求助
已经有4人回复
2楼2009-09-01 11:13:55
3楼2009-09-01 21:02:20
 本帖仅楼主可见 |
5楼2009-09-06 09:12:33
简单回复
sheath4楼
2009-09-06 09:06
回复
