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比XPS探测深度更浅的表征方法
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 目前了解的探测深度最浅的XPS，对有机材料探测深度大约在10 nm。现在想表征实验前后膜材料表层基团和元素化学环境的变化，深度最好是亚纳米级，请问各位老师额同学有知道这样的表征方法吗。 |
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