| 查看: 404 | 回复: 0 | ||
| 【悬赏金币】回答本帖问题，作者OHCCHO将赠送您 10 个金币 | ||
[求助]
比XPS探测深度更浅的表征方法
|
||
 目前了解的探测深度最浅的XPS，对有机材料探测深度大约在10 nm。现在想表征实验前后膜材料表层基团和元素化学环境的变化，深度最好是亚纳米级，请问各位老师额同学有知道这样的表征方法吗。 |
回复此楼» 猜你喜欢
多孔结构的镍基催化剂
已经有7人回复
-
精准控杂，赋能多孔碳——阜成智能气氛炉成功完成多孔碳钝化杂质探究实验
已经有0人回复
-
冶金与矿业论文润色/翻译怎么收费?
已经有108人回复
-
Polymers 期刊特刊 组稿
已经有101人回复
-
求助：成都理工大学 《物理学与现代科技》课件
已经有0人回复
-
2027陕西省科技项目合作征集
已经有0人回复
-
钠电正极材料改性探索丨工艺装备化深度实践
已经有0人回复
-
国家纳米科学中心孙向南课题组招收2027级硕士1名
已经有7人回复
-
XRD出现了第二相该怎么确定
已经有1人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
