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能谱线扫一般怎么进行定量/半定量分析 已有1人参与
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对界面能谱进行定量/半定量分析，点扫、线扫、面扫是怎么选择的？如果成分相差在5%以内，是不是选择线扫比较好一点？ 定量分析，对SEM EDS进行操作有什么注意事项？线扫和面扫，是看稳定，线扫结果不再有大的变化吗 |
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gxytju2008
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lenko2楼2020-08-26 12:05:40
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lenko: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2020-08-28 15:04:08
lenko: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2020-08-28 15:04:08
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mapping趋势都不明显，那说明根本没啥可见的区别，线扫的变化很有可能只是假象，1wt%以下可以认为不存在了，不过问题在于你确定这个1%靠谱么，你具体要分析啥元素，C这种轻元素EDS根本不可靠，你说有或者没有都很难，EPMA定量性强很多，不过问题在于也要有表样校准的，可能一两周一个月就要做一次，现在很少有仪器维护到这个程度的，不校准还是不靠谱的，另外就是校准用的标准物质和你材料的差异要越小越好，否则也不准，这个其实很难做到，所以大部分也只是理论上比较准，实际能不能定量还是难说 |
4楼2020-08-26 13:22:03
