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能谱线扫一般怎么进行定量/半定量分析已有1人参与
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对界面能谱进行定量/半定量分析,点扫、线扫、面扫是怎么选择的?如果成分相差在5%以内,是不是选择线扫比较好一点? 定量分析,对SEM EDS进行操作有什么注意事项?线扫和面扫,是看稳定,线扫结果不再有大的变化吗 |
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有机高分子材料论文润色/翻译怎么收费?
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gxytju2008
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gxytju2008
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【答案】应助回帖
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lenko: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2020-08-28 15:04:08
lenko: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2020-08-28 15:04:08
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mapping趋势都不明显,那说明根本没啥可见的区别,线扫的变化很有可能只是假象,1wt%以下可以认为不存在了,不过问题在于你确定这个1%靠谱么,你具体要分析啥元素,C这种轻元素EDS根本不可靠,你说有或者没有都很难,EPMA定量性强很多,不过问题在于也要有表样校准的,可能一两周一个月就要做一次,现在很少有仪器维护到这个程度的,不校准还是不靠谱的,另外就是校准用的标准物质和你材料的差异要越小越好,否则也不准,这个其实很难做到,所以大部分也只是理论上比较准,实际能不能定量还是难说 |
4楼2020-08-26 13:22:03













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lenko