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lusunshine新虫 (正式写手)
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小角度XRD数据如何处理得到薄膜厚度、密度等信息
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| 用小角度XRD表征了样品：Si基底上100nm左右厚的Al薄膜。得到“.raw”文件，如何处理得到薄膜厚度、密度等信息？用jade软件可以吗？如何操作？ |
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lusunshine
新虫 (正式写手)
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- 专业: 热物性与热物理测试技术
3楼2020-08-23 14:36:04
yanfang2741 
禁虫 (文坛精英)
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2楼2020-08-22 20:12:34