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lusunshine新虫 (正式写手)
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小角度XRD数据如何处理得到薄膜厚度、密度等信息
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| 用小角度XRD表征了样品:Si基底上100nm左右厚的Al薄膜。得到“.raw”文件,如何处理得到薄膜厚度、密度等信息?用jade软件可以吗?如何操作? |
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lusunshine
新虫 (正式写手)
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3楼2020-08-23 14:36:04
yanfang2741 
禁虫 (文坛精英)
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2楼2020-08-22 20:12:34













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