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erran

木虫 (著名写手)

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[资源] 《Ｘ射线粉末衍射实验技术基础》-也搜无重复

目录:

前言
第一章 X 射线衍射基础
1.1 概述
1.2 X 射线的产生
1.3 X 射线管工作条件的确定
1.4 X 射线光谱
1.4.1 连续光谱
1.4.2 特征光谱
1.5 物质对X 射线的吸收，实验波长及滤波片的选择
1.5.1 线吸收系数
1.5.2 质量吸收系数
1.5.3 吸收系数与波长及元素的关系
1.5.4 实验波长的选择
1.5.5 滤波片
1.6 晶体对X 射线的衍射
1.6.1 衍射几何方程
1.6.2 多晶X 射线的衍射强度
1.7 X 射线的检测
1.7.1 荧光板
1.7.2 照相方法
1.7.3 正比计数管
1.7.4 闪烁计数管
1.7.5 固体检测器
1.7.6 位敏正比计数管
1.7.7 成像屏
1.7.8 X 射线电视
1.8 X 射线的防护
第二章多晶X 射线衍射仪器
2.1 概述
2.2 两种衍射几何
2.2.1 平行光束型
2.2.2 聚焦光束型
2.3 两类X 射线测量记录方法
2.3.1 照相法
2.3.2 衍射仪法
2.4 X 射线源
2.5 几种常用粉末X 射线衍射实验技术的比较
第三章 MSAL 自动X 射线衍射仪
3.1 概述
3.2 X 射线发生器
3.2.1 X 射线管
3.2.2 高压发生器及其控制电路
3.2.3 保护电路
3.3 测角仪的光路系统
3.4 X 射线强度测量记录系统
3.4.1 X 射线检测器
3.4.2 脉冲幅度分析器
3.4.3 计数率表
3.5 衍射仪控制及衍射数据采集分析系统
3.5.1 衍射仪控制操作系统
3.5.2 衍射数据处理分析系统
3.5.3 各种X 射线衍射分析应用程序（选购）
第四章多晶X 射线衍射仪实验技术
4.1 仪器条件的准备
4.1.1 X 射线光源条件
4.1.2 测角仪的校正（“对零”）
4.1.3 X 射线强度测量记录系统的调整
4.2 具体实验条件的选定
4.2.1 发散狭缝
4.2.2 接收狭缝
4.2.3 防散射狭缝
4.2.4 扫描方式
4.2.5 长图记录仪记录条件的选择
4.2.6 数字记录时采样条件的选择
4.3 样品的制备
4.3.1 对样品粉末粒度的要求
4.3.2 关于样品试片平面的准备
4.3.3 关于样品试片的厚度
4.3.4 制样技巧
4.4 原始数据的初步处理
4.4.1 图谱的平滑
4.4.2 背底的扣除和弱峰的辨认
4.4.3 峰位的确定
4.4.4 衍射强度I 的测量
第五章多晶X 射线衍射仪的实验误差
5.1 衍射角测定中的系统误差
5.1.1 衍射仪方法的系统误差
5.1.2 测角仪测角的机械准确度
5.2 X 射线强度测量的误差
5.2.1 计数损失及校正
5.2.2 X 射线强度的计数统计误差
第六章粉末衍射方法的应用
6.1 概述
6.2 物相分析
6.2.1 X 射线衍射方法的依据
6.2.2 物相定性鉴定
6.2.3 物相定量分析
6.3 晶胞参数的精确测定及其应用
6.3.1 晶胞参数的精确测定
6.3.2 精确晶胞参数数据的应用
6.4 衍射线强度分布数据(剖面数据)的应用
6.4.1 Scherrer 公式
6.4.2 真实峰宽的测定
参考文献
附录
附录1 常用物理常数和换算公式
附录2 现代海洋沉积物中常见矿物名称对照表
附录3 X 射线衍射分析用X 射线管的特征波长及有关数据
附录4 一些纯物质的衍射数据
Al、Si、α-SiO2、CaCO3（方解石）、Ag、W、CaF2、NaCl、KCl、KBrO3、ZnO、CdO、
α-Al2O3（刚玉）、TiO2（金红石）、Cr2O3、CeO2
下载地址：
http://www.91files.com/?LXCH8HAW50L9S2P58QIT

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