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superzg09木虫 (小有名气)
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【求助】哪位高人指导下XPS和SIMS得区别和用途啊？
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哪位高人指导下XPS和SIMS得区别和用途啊？ SIMS可以做形貌分析？可以测元素的分布情况？ |
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lxq211211
木虫 (正式写手)
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6楼2009-12-20 15:48:08
yanjin_jia
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1，二次离子质谱仪，是利用质谱法分析初级离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱可以分析除了氢以外的全部元素，并能给出同位素的信息，分析化合物组分和分子结构。 二次离子质谱具有很高的灵敏度，可达到ppm甚至ppb的量级，还可以进行微区成分成像和深度剖面分析 2.XPS=X-ray Photoelectron Spectroscopy X射线光电子能谱分析 待测物受X光照射后内部电子吸收光能而脱离待测物表面(光电子)，透过对光电子能量的分析可了解待测物组成,XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析，包括价态。 |
2楼2009-06-22 20:11:15
superzg09
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3楼2009-06-23 10:57:51
4楼2009-12-19 18:03:36