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superzg09木虫 (小有名气)
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[交流]
【求助】哪位高人指导下XPS和SIMS得区别和用途啊？
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哪位高人指导下XPS和SIMS得区别和用途啊？ SIMS可以做形貌分析？可以测元素的分布情况？ |
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superzg09
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3楼2009-06-23 10:57:51
yanjin_jia
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1，二次离子质谱仪，是利用质谱法分析初级离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱可以分析除了氢以外的全部元素，并能给出同位素的信息，分析化合物组分和分子结构。 二次离子质谱具有很高的灵敏度，可达到ppm甚至ppb的量级，还可以进行微区成分成像和深度剖面分析 2.XPS=X-ray Photoelectron Spectroscopy X射线光电子能谱分析 待测物受X光照射后内部电子吸收光能而脱离待测物表面(光电子)，透过对光电子能量的分析可了解待测物组成,XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析，包括价态。 |
2楼2009-06-22 20:11:15
4楼2009-12-19 18:03:36
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dfq0730(金币+1,VIP+0):感谢交流~~~ 12-20 12:13
小木虫: 金币+2, 帖子真精彩 2015-05-25 11:37:42
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xps光电子能谱跟SIMS都是表面分析的手段，都是对物质（比如高分子）进行表面状态分析比较重要的手段~~xps的基本原理是光电效应，所用光源是x射线，通过检测打出的内层电子的能量来获得谱图（因为检测的是能量，所以称为能谱而非光谱），可以定性定量的分析物质表面信息，是高分子当中进行表面分析最常用的手段。 SIMS本质上还是一种质谱手段，除了激发源是采用离子枪之外（质谱是高能电子束轰击样品），其余与质谱完全一样，所以目前一般采用四级杆质谱仪跟SIMS连用。 xps的缺点是不能测定H,He（因为这两种元素不存在内层电子，而x光打出来的是内层电子），但SIMS可以测定所有元素，包括同位素。但SIMS有个缺点，就是它是一种破坏性的实验手段，这点xps要好些，但是高聚物很多对x光敏感，有可能长时间经受x光照射发生X-Ray damage（x光损伤），所以拿到xps谱图要慎重考虑。除此之外，SIMS灵敏度要高点，但xps分辨率就要相应差一点~~ 还有什么不明白的请跟帖，顺便说一句，二楼不知道就不要在那瞎说，误人误己，学术大忌 |
5楼2009-12-19 21:57:42