| 查看: 1315 | 回复: 5 | |||
| 当前只显示满足指定条件的回帖,点击这里查看本话题的所有回帖 | |||
Xfrag捐助贵宾 (小有名气)
|
[求助]
EBSD晶粒尺寸测量跟传统截线法的误差带
|
||
|
请教大家有个问题比较迷惑, 就是如用传统截线法测量的平均晶粒尺寸后面加误差带或者文字有个有个mean size±size来表示测量的误差。但是ebsd的误差带一般是多少呢,画图的时候误差棒都不知道给多大。有没懂这方面的牛人给点建议吧,多谢多谢 |
» 猜你喜欢
308 085701 四六级已过求调剂
已经有14人回复
297求调剂
已经有3人回复
288求调剂(0703)一志愿东北大学
已经有8人回复
297一志愿上交085600求调剂
已经有3人回复
学硕285求调剂
已经有46人回复
一志愿哈工大材料324分求调剂
已经有4人回复
341求调剂
已经有3人回复
330求调剂
已经有3人回复
346分材料求调剂
已经有4人回复
一志愿华中农业大学071010,总分三百二,求调剂
已经有3人回复
|
如果制样特别好,测试结果CI值都>0.1。然后测试面积足够大,测试步长足够小。那么,计算结果就是测试区域的准确结果,不存在误差。至于测试区域是否有代表性,能不能代表整个样品,或者说整个产品,就要看产品各处晶粒是否均匀了。 发自小木虫Android客户端 |
3楼2019-09-28 19:44:10
2楼2019-09-28 19:40:51
|
本帖内容被屏蔽 |
4楼2019-11-13 17:38:20
|
本帖内容被屏蔽 |
5楼2019-11-13 18:36:23













回复此楼
10