| 查看: 1288 | 回复: 5 | ||
Xfrag捐助贵宾 (小有名气)
|
[求助]
EBSD晶粒尺寸测量跟传统截线法的误差带
|
|
请教大家有个问题比较迷惑, 就是如用传统截线法测量的平均晶粒尺寸后面加误差带或者文字有个有个mean size±size来表示测量的误差。但是ebsd的误差带一般是多少呢,画图的时候误差棒都不知道给多大。有没懂这方面的牛人给点建议吧,多谢多谢 |
» 猜你喜欢
什么是人一生最重要的?
已经有3人回复
过年走亲戚时感受到了所开私家车的鄙视链
已经有10人回复
今年春晚有几个节目很不错,点赞!
已经有12人回复
情人节自我反思:在爱情中有过遗憾吗?
已经有13人回复
体制内长辈说体制内绝大部分一辈子在底层,如同你们一样大部分普通教师忙且收入低
已经有12人回复
基金正文30页指的是报告正文还是整个申请书
已经有5人回复
2楼2019-09-28 19:40:51
|
如果制样特别好,测试结果CI值都>0.1。然后测试面积足够大,测试步长足够小。那么,计算结果就是测试区域的准确结果,不存在误差。至于测试区域是否有代表性,能不能代表整个样品,或者说整个产品,就要看产品各处晶粒是否均匀了。 发自小木虫Android客户端 |
3楼2019-09-28 19:44:10
|
本帖内容被屏蔽 |
4楼2019-11-13 17:38:20
|
本帖内容被屏蔽 |
5楼2019-11-13 18:36:23
6楼2019-11-16 12:42:30













回复此楼