| 查看: 1341 | 回复: 5 | ||
Xfrag捐助贵宾 (小有名气)
|
[求助]
EBSD晶粒尺寸测量跟传统截线法的误差带
|
|
请教大家有个问题比较迷惑， 就是如用传统截线法测量的平均晶粒尺寸后面加误差带或者文字有个有个mean size±size来表示测量的误差。但是ebsd的误差带一般是多少呢，画图的时候误差棒都不知道给多大。有没懂这方面的牛人给点建议吧，多谢多谢 |
回复此楼» 猜你喜欢
297求调剂
已经有12人回复
-
26调剂 086003
已经有3人回复
-
265求调剂
已经有20人回复
-
271分求调剂学校
已经有11人回复
-
320分人工智能调剂
已经有6人回复
-
求调剂，一志愿南京航空航天大学 ，080500材料科学与工程学硕
已经有8人回复
-
280求调剂
已经有19人回复
-
求材料调剂，一志愿郑州大学289分
已经有15人回复
-
26考研调剂0710 0860
已经有6人回复
-
282求调剂
已经有22人回复
2楼2019-09-28 19:40:51
|
如果制样特别好，测试结果CI值都＞0.1。然后测试面积足够大，测试步长足够小。那么，计算结果就是测试区域的准确结果，不存在误差。至于测试区域是否有代表性，能不能代表整个样品，或者说整个产品，就要看产品各处晶粒是否均匀了。 发自小木虫Android客户端 |
3楼2019-09-28 19:44:10
|
本帖内容被屏蔽 |
4楼2019-11-13 17:38:20
|
本帖内容被屏蔽 |
5楼2019-11-13 18:36:23
6楼2019-11-16 12:42:30
