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【资源】！！牛书惊现小木虫《semiconductor_material_and_device_characterization》
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 By Dieter K. SchroderPublisher: Wiley-IEEE Press Number Of Pages: 800 Publication Date: 2006-01-30 Sales Rank: 211190 ISBN / ASIN: 0471739065 EAN: 9780471739067 Binding: Hardcover Manufacturer: Wiley-IEEE Press Studio: Wiley-IEEE Press Average Rating: 5 Total Reviews: 3 下载地址 http://www.ziddu.com/download/5197288/down.rar.html 先顶下  [ Last edited by shyman128 on 2009-6-15 at 19:04 ] |
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22楼2009-05-28 12:34:08
★★★★★ 五星级,优秀推荐
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不错，目录如下， 1 Resistivity 2 Carrier and Doping Density 3 Contact Resistance and Schottky Barriers 4 Series Resistance, Channel Length and Width, and Threshold Voltage 5 Defects 6 Oxide and Interface Trapped Charges, Oxide Thickness 7 Carrier Lifetimes 8 Mobility 9 Charge-based and Probe Characterization 10 Optical Characterization 11 Chemical and Physical Characterization 12 Reliability and Failure Analysis |
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园丁6楼
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flbwlx12楼
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