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不错，目录如下， 1 Resistivity 2 Carrier and Doping Density 3 Contact Resistance and Schottky Barriers 4 Series Resistance, Channel Length and Width, and Threshold Voltage 5 Defects 6 Oxide and Interface Trapped Charges, Oxide Thickness 7 Carrier Lifetimes 8 Mobility 9 Charge-based and Probe Characterization 10 Optical Characterization 11 Chemical and Physical Characterization 12 Reliability and Failure Analysis |
23楼2009-05-28 13:03:07
2楼2009-05-27 15:09:45
3楼2009-05-27 15:31:28
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