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 By Dieter K. SchroderPublisher: Wiley-IEEE Press Number Of Pages: 800 Publication Date: 2006-01-30 Sales Rank: 211190 ISBN / ASIN: 0471739065 EAN: 9780471739067 Binding: Hardcover Manufacturer: Wiley-IEEE Press Studio: Wiley-IEEE Press Average Rating: 5 Total Reviews: 3 下载地址 http://www.ziddu.com/download/5197288/down.rar.html 先顶下  [ Last edited by shyman128 on 2009-6-15 at 19:04 ] |
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★★★★★ 五星级,优秀推荐
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不错，目录如下， 1 Resistivity 2 Carrier and Doping Density 3 Contact Resistance and Schottky Barriers 4 Series Resistance, Channel Length and Width, and Threshold Voltage 5 Defects 6 Oxide and Interface Trapped Charges, Oxide Thickness 7 Carrier Lifetimes 8 Mobility 9 Charge-based and Probe Characterization 10 Optical Characterization 11 Chemical and Physical Characterization 12 Reliability and Failure Analysis |
23楼2009-05-28 13:03:07
2楼2009-05-27 15:09:45
3楼2009-05-27 15:31:28
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