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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 前沿热点 » 【请教】请教关于磁电耦合性能测量的问题
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zpt1219

金虫 (小有名气)

[交流] 【请教】请教关于磁电耦合性能测量的问题

请教各位虫友：
       德仪生产的Radiant Precision LC 设备能不能测量磁电耦合性能，如果能的话怎么测量，用哪种模式，多谢指教！
（我用过一些模式，比如：hysteresis、 charge和chamber等模式都测量过，但是看不出变化。 ）
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1楼 2009-05-22 11:03:30
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zpt1219

金虫 (小有名气)
极化强度会随着测量次数的增加而下降，但是随着测量次数的增加下降的趋势越来越缓慢，我现在只是想知道这是什么原因造成的。
       而且从极化强度降低的幅度（0.5uC/cm2）来看，这个幅度已经远大于文献上报道的在磁场作用下极化强度的下降幅度了（大约是0.004uC/cm2），所以我才想问用德仪的这个设备能不能测量磁电耦合性能，如果能的话，请高手用该设备测量磁电耦合性能的模式以及参数设置，如果不能的话我就不再这上面浪费时间了。
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7楼2009-05-31 21:16:17
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miloyy

木虫 (正式写手)
★ ★
zpt1219(金币+1):谢谢参与
zpt1219(金币+1,VIP+0): 5-31 21:22
你没有磁场咋测？
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2楼2009-05-23 02:38:44
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zpt1219

金虫 (小有名气)
我肯定是有磁场啊，我的意思是在其他条件都满足的条件下怎么用德仪的这个设备测量.
      而且还有一个问题，我做的体系是PZT/CFO复合2-2型薄膜，为什么在我不加磁场的条件下，单独测量电滞回线的时候，剩余极化强度和饱和极化强度都随着我反复测量电滞回线而衰减，我觉得不应该是疲劳的问题，不可能这么容易疲劳，比如第一次测量的剩余极化强度是22.5uC/cm2，在什么条件都不变的条件下第二次测量电滞回线剩余极化强度就会下降0.5uC/cm2,我不知道这是设备设置问题还是我薄膜的问题，请高人指教。
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3楼2009-05-23 10:34:29
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miloyy

木虫 (正式写手)
★ ★ ★ ★
yangruirui(金币+2,VIP+0):欢迎讨论 5-23 17:18
zpt1219(金币+2,VIP+0):希望继续关注 5-27 21:04
引用回帖:
Originally posted by zpt1219 at 2009-5-23 10:34:
我肯定是有磁场啊，我的意思是在其他条件都满足的条件下怎么用德仪的这个设备测量.
      而且还有一个问题，我做的体系是PZT/CFO复合2-2型薄膜，为什么在我不加磁场的条件下，单独测量电滞回线的时候，剩余极化 ...

一般测磁电耦合系数是看在单位磁场变化下，能产生多少的电场。当然也有测磁场对电滞回线的影响。你的体系是两层薄膜，这个由于衬底的clamping，能产生的应力会很小吧，而且对于PZT应力对其极化大小影响也不是很大。所以能看到的磁场对电滞回线的影响就很小了。

你能不能上个图，看看你说的极化变小的问题。从22到0.5这个变化太不正常了。
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4楼2009-05-23 11:27:59
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