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xrd测试基础问题请教
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请教大家个比较基础的xrd测量问题，一直很混淆。 就是用xrd测量可以测量比如金属组织的晶粒尺寸和微观应变，得到的晶粒尺寸是x射线反射面法向的晶粒尺寸即反射面所呈见组织的尺寸。那么所测量的微观应变应该是沿深度方向（垂直于反射面）还是平行于反射面的微观应变呢？中子衍射的原理与其基本类似吧 |
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