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felix果缤纷银虫 (小有名气)
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[求助]
关于二维材料KPFM探针测试性能---表面电势的问题
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如题，目前制备二维材料，厚度3nm到10+nm不等。转移到氧化硅片上，采用的是德国布鲁克机器，测量样品的表面电势。 有个问题想咨询下虫友们，正常定量来说，相同厚度的材料，其测量的电势值应该相同才对，但是会出现误差，并且误差波动较大。 不知道是什么原因？是做电势测试，就存在这种情况？还是机器操作的问题？ 期待虫友们的帮助，先谢谢大家啦  @yswyx@神魔流转 |
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