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felix果缤纷银虫 (小有名气)
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[求助]
关于二维材料KPFM探针测试性能---表面电势的问题
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如题,目前制备二维材料,厚度3nm到10+nm不等。转移到氧化硅片上,采用的是德国布鲁克机器,测量样品的表面电势。 有个问题想咨询下虫友们,正常定量来说,相同厚度的材料,其测量的电势值应该相同才对,但是会出现误差,并且误差波动较大。 不知道是什么原因?是做电势测试,就存在这种情况?还是机器操作的问题? 期待虫友们的帮助,先谢谢大家啦 @yswyx@神魔流转 |
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