| 查看: 1744 | 回复: 0 | ||
felix果缤纷银虫 (小有名气)
|
[求助]
关于二维材料KPFM探针测试性能---表面电势的问题
|
|
如题，目前制备二维材料，厚度3nm到10+nm不等。转移到氧化硅片上，采用的是德国布鲁克机器，测量样品的表面电势。 有个问题想咨询下虫友们，正常定量来说，相同厚度的材料，其测量的电势值应该相同才对，但是会出现误差，并且误差波动较大。 不知道是什么原因？是做电势测试，就存在这种情况？还是机器操作的问题？ 期待虫友们的帮助，先谢谢大家啦  @yswyx@神魔流转 |
回复此楼» 猜你喜欢
济南大学国家优青课题组 2026 调剂招生来啦
已经有0人回复
-
武汉纺织大学_化学院官方调剂群-院士团队招生-学生自由度高发展好-欢迎各位同学
已经有0人回复
-
金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有67人回复
-
西华大学 化学 调剂有名额
已经有0人回复
-
上海应用技术大学招生调剂研究生
已经有8人回复
-
南京晓庄学院绿色能源材料团队招生
已经有0人回复
-
南京晓庄学院绿色能源材料团队招生
已经有0人回复
-
北方工业大学储能技术-02电化学储能与氢能方向招收2026级二次调剂学生
已经有0人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
