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介孔薄膜XRD有介孔结构，但强度不强，能否在TEM上看出介孔结构
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这是介孔氧化硅薄膜，用日本理学测试的（40KV，30 mA，Cu靶），附件是小角度衍射图谱（word文档），从图中看出是有介孔结构，但强度不太强，所以想问一下，是否可以从TEM中看出孔状结构？如果可以，大概怎样做样品前处理，还有哪里做比较好？ 比较急，请大家给点意见 [ Last edited by ^_^@^_^ on 2009-4-22 at 12:20 ] |
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