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介孔薄膜XRD有介孔结构,但强度不强,能否在TEM上看出介孔结构
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这是介孔氧化硅薄膜,用日本理学测试的(40KV,30 mA,Cu靶),附件是小角度衍射图谱(word文档),从图中看出是有介孔结构,但强度不太强,所以想问一下,是否可以从TEM中看出孔状结构?如果可以,大概怎样做样品前处理,还有哪里做比较好? 比较急,请大家给点意见 [ Last edited by ^_^@^_^ on 2009-4-22 at 12:20 ] |
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