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SBN晶体
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| 晶体在高电压下沿C轴发生竖直畸变。在e光照射下，晶体中出现较多沿C轴方向分布的竖直状条纹，而且在加高电压下(1000v以上)竖直条纹表现得更加明显，甚至影响非线性实验。在低电压下可以正常的写出晶格。附件中是部分图像，加高电压时发生严重畸变。入射的高斯光斑在高压下则会沿垂直于条纹方向横向延展。晶体应该没有损坏，不知道如何消除高电压下图像的畸变。 |
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