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【求助】介电陶瓷高频损耗测试问题
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请问一下哪里有比较好的测试介电陶瓷高频损耗的仪器,本人做介电陶瓷,因损耗测试不准确给工作带来了比较大的困难,我们公司有4294网络分析仪,但是测损耗不准确,很多时候都是负值。 |
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售SCI-T0P文章,我:8O.5.5.1.O.54,科目齐全,可+急
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zhenjiansen511
至尊木虫 (著名写手)
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洛阳学子(金币+2,VIP+0):多谢交流 4-29 23:11
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我们的安捷伦Agilent E8362B矢量网络分析仪测试频率10MHz-20GHz 微波陶瓷的介电性能常用的测试的方法有以下几种:(1) 谐振频率法;(2) 腔体微扰法;(3) 微波开腔法;(4)传输线法;(5) 自由空间法。 平行板谐振法已被广泛用于高电容率、低损耗材料的微波介电性能测量,并成为陶瓷材料介电性能测试最为广泛使用的方法。该测试方法首先由Hakki和Coleman[37]于1960年提出,后来又经Courtney和Kobayashi[38,39]等对该测试方法进行改进,所以这种方法也成为Hakki-Coleman法。本文采用Agilent E8362B矢量网络分析仪测试各参数,得到介质谐振器TE011谐振峰的谐振频率ƒ0、Q、Loss等数据,经测试软件计算得到材料复电容率及Q×f值。谐振频率温度系数τf通过测试介质谐振器样品TE011模谐振频率对温度的变化经计算得到[24],即: τf= (2-2) 式中:f1和f0分别为温度为T1和T0时的谐振频率。 |
12楼2009-04-29 21:42:04
3楼2009-03-19 14:47:05
洛阳学子
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4楼2009-04-25 17:54:20
6楼2009-04-26 03:19:21










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