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jondan

木虫 (著名写手)

[求助] xrd数据在低角度阶段,背景不平,是什么原因 已有2人参与

换了一台测试测试设备,粉末XRD数据在低角度阶段,背景不平(有明显的下降趋势,正常是近似水平的),是什么原因?有改进的数据采集方法吗?求拍砖讨论。样品是结晶性很好的颗粒,无非晶。

xrd数据在低角度阶段,背景不平,是什么原因
XRD.jpg
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hello
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匿名

用户注销 (著名写手)

本帖仅楼主可见
2楼2017-12-07 22:10:15
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匿名

用户注销 (著名写手)

本帖仅楼主可见
3楼2017-12-07 22:22:07
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jondan

木虫 (著名写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by 只能说我忘了 at 2017-12-07 22:22:07
可以试试从3或者5度开始扫,小角度容易散射

以前从10度开始测试是没问题的,我没有测试改进的方法?

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hello
4楼2017-12-08 12:05:21
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jondan

木虫 (著名写手)

引用回帖:
4楼: Originally posted by jondan at 2017-12-08 12:05:21
以前从10度开始测试是没问题的,我没有测试改进的方法?
...

有没有改进办法,测试方法或参数等

发自小木虫Android客户端
hello
5楼2017-12-08 12:06:33
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lihaitaolili

至尊木虫 (著名写手)

小角使用闪烁探测器比较好

发自小木虫Android客户端
6楼2017-12-08 13:53:36
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leaves922

木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
低角度入射,有一部分光直射到检测器,所以检测器检测的光子数会高

发自小木虫IOS客户端
7楼2017-12-08 14:27:51
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guoshuaihit

新虫 (著名写手)

奋干
8楼2017-12-22 09:09:21
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gyliu

铁杆木虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

这是正常现象。对于BB衍射几何,因为在低角度,打在样品架的光斑比较宽,甚至打到粉末样品之外的玻璃样品架上,造成低角度背底偏高。如果想改善这种情况,需要减小入射狭缝,同时数据强度信号成倍下降。
9楼2017-12-22 14:48:29
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