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xrd数据在低角度阶段,背景不平,是什么原因
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jondan
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xrd数据在低角度阶段,背景不平,是什么原因
已有2人参与
换了一台测试测试设备,粉末XRD数据在低角度阶段,背景不平(有明显的下降趋势,正常是近似水平的),是什么原因?有改进的数据采集方法吗?求拍砖讨论。样品是结晶性很好的颗粒,无非晶。
XRD.jpg
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只能说我忘了
at 2017-12-07 22:22:07
可以试试从3或者5度开始扫,小角度容易散射
以前从10度开始测试是没问题的,我没有测试改进的方法?
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hello
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2017-12-08 12:05:21
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Originally posted by
jondan
at 2017-12-08 12:05:21
以前从10度开始测试是没问题的,我没有测试改进的方法?
...
有没有改进办法,测试方法或参数等
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2017-12-08 12:06:33
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小角使用闪烁探测器比较好
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2017-12-08 13:53:36
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低角度入射,有一部分光直射到检测器,所以检测器检测的光子数会高
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2017-12-08 14:27:51
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专业: 凝聚态物性I:结构、力学和
【答案】应助回帖
这是正常现象。对于BB衍射几何,因为在低角度,打在样品架的光斑比较宽,甚至打到粉末样品之外的玻璃样品架上,造成低角度背底偏高。如果想改善这种情况,需要减小入射狭缝,同时数据强度信号成倍下降。
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9楼
2017-12-22 14:48:29
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