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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 综合其他 » 薄膜做XRD φ扫描时，样品倾斜的夹角怎么确定？
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苍海桑田

新虫 (初入文坛)

[交流] 薄膜做XRD φ扫描时，样品倾斜的夹角怎么确定？

XRD φ扫描样品倾斜的夹角怎么确定?有什么计算公式之类的吗？夹角与薄膜的生长面有什么关系？
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1楼2017-11-09 22:22:11
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leaves922

木虫 (正式写手)
★
苍海桑田(金币+1): 谢谢参与
取决于你样品里倾斜晶面的角度，可以模拟的话就设置垂直晶面的夹角，不确定的话就多试几个角度测试，没有基底衍射就可以了

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4楼2017-11-10 10:24:01
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苍海桑田

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
4楼: Originally posted by leaves922 at 2017-11-10 10:24:01
取决于你样品里倾斜晶面的角度，可以模拟的话就设置垂直晶面的夹角，不确定的话就多试几个角度测试，没有基底衍射就可以了

还是不太明白，假如是四方晶系，薄膜是001方向的，做 φ扫描应该扫哪个面？
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5楼2017-11-13 15:37:01
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yanfang27412楼
2017-11-09 22:32   回复  
苍海桑田(金币+1): 谢谢参与
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