| 查看: 942 | 回复: 2 | ||
[求助]
关于半导体样品的EPR测试
|
| 想测试半导体材料的氧空位缺陷的，样品是长在FTO基底上的半导体纳米晶，请问EPR测试的话，需要对样品加光照吗，看很多文献里面好像都没有提到测EPR的时候加不加光照，也有提到说进行光照测试的，如果光照以后EPR的信号强度应该会更明显吧，第一次测这个，希望高手解答一下 |
回复此楼» 猜你喜欢
售SCI一区文章，我:8 O5 51O 54,科目齐全,可+急
已经有5人回复
-
售SCI一区文章，我:8 O5 51O 54,科目齐全,可+急
已经有6人回复
-
售SCI一区文章，我:8 O5 51O 54,科目齐全,可+急
已经有8人回复
-
售SCI一区文章，我:8 O5 51O 54,科目齐全,可+急
已经有3人回复
-
售SCI一区文章，我:8 O5 51O 54,科目齐全,可+急
已经有4人回复
-
版面费该交吗
已经有8人回复
-
售SCI一区文章，我:8 O5 51O 54,科目齐全,可+急
已经有5人回复
-
售SCI一区文章，我:8 O5 51O 54,科目齐全,可+急
已经有3人回复
-
基金正文30页指的是报告正文还是整个申请书
已经有6人回复
-
面上可以超过30页吧？
已经有4人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
lovezaoxin 
禁虫 (正式写手)
|
本帖内容被屏蔽 |
2楼2017-04-08 22:26:15
3楼2017-04-10 08:34:27