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两种缺陷特征参数相近,如何提高svm识别率 已有1人参与
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做基于图像处理的六种缺陷识别,发现只有两种缺陷的识别率低。 仔细分析,是由于二者特征参数太近,特征取得是几何特征和灰度特征。 那么,怎么做可以提高这两种缺陷的识别率? 我想了三个方法,1增加训练样本数量。2,再增加一个二分类的svm。3,改进分类模型? 请问哪个合适,或者还有其他更好的方法? 谢谢 |
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2楼2017-04-08 22:42:50














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