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两种缺陷特征参数相近，如何提高svm识别率 已有1人参与
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做基于图像处理的六种缺陷识别，发现只有两种缺陷的识别率低。 仔细分析，是由于二者特征参数太近，特征取得是几何特征和灰度特征。 那么，怎么做可以提高这两种缺陷的识别率？ 我想了三个方法，1增加训练样本数量。2，再增加一个二分类的svm。3，改进分类模型？ 请问哪个合适，或者还有其他更好的方法？ 谢谢 |
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2楼2017-04-08 22:42:50