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zh327112793木虫 (小有名气)
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求助！关于掺杂样品精修的两个小白问题 已有1人参与
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如图，《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》第四章第三节讲到Fe掺杂取代Ti，通过修改钛酸钡的CIF文件得到Ba(Ti,Fe)O3的CIF文件。我想问一，我们组做Er掺杂YNbO4荧光粉样品，是否可以通过查找并修改YNbO4的CIF文件，来获得精修样品(Er，Y)NbO4所需的CIF文件；二，文中对晶胞参数向量长度修改的依据是什么，是通过取代后离子半径变化，经由软件计算得出的还是单纯赋值？望虫友解答，谢谢 WP_20170403_001.jpg |
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lindasherloo
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【答案】应助回帖
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zh327112793: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2017-04-03 17:51:11
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zh327112793: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2017-04-03 17:51:11
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问题一：先将你样品的XRD图与数据库中YNbO4的粉末衍射图进行对比，如果二者一致就可以直接用后者的cif修改进行精修 问题二：精确到小数点后那么多位的晶胞参数，应该是精修之后的结果了。毕竟两个离子半径不同，最后的单胞会有点差别。直接代入cif之后，你需要修改的仅仅是原子类型那一部分，要将原来Y的位置改为Y和Er混占，比例与你的投料比一致。晶胞参数、原子位置等等参数的变化都是精修之后得到的 发自小木虫IOS客户端 |
2楼2017-04-03 17:32:12
nansh13
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