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【求助】我的sol-gel法制TiO2薄膜测不出XRD的峰
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我用各种配液比例和退火温度都试过了，测XRD始终没有出现衍射峰 最常用的摩尔比例:Ti(OBu)4: H2O : C2H5OH : HNO3=1: 3.2 : 85 : 0.7 因为 这种比例配出来的溶胶清彻透明，稳定性好 基片选用的是石英玻璃 制膜用旋涂法，旋涂次数有6次的，还有20多次的。刚开始涂6次测不出峰来，测试人员建议我说是膜太薄了，后来涂了20次，高温退火后，基片上已出现明显的一层膜，但并不能确定那是TiO2晶体，因为XRD测不出峰来 退火温度是800度，做粉体用500度就够了的，有不少文献报道，Sol-gel法用石英基片做膜的话，TiO2不容易结晶，所以烧到了800度，跟我一个实验室的有个同学用PLD做跟我一样的膜，退火温度是800度，基片也是一样的，唯一不同是她用的快速退火炉，我用的是烧结炉。她基本上每次测试都有峰位，只不过每次测得的峰位强度各不相同 很无语了，实验不知道该怎么做了，现在天天不知道该干什么，老板看着我不做事也烦勒！！！ [ Last edited by jackchen145 on 2008-12-29 at 15:02 ] |
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