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AP1009219

金虫 (初入文坛)

[求助] 氮化硅的杂质检测 已有1人参与

现有电感耦合等离子体光谱仪(ICP),想测试杂质含量,但氮化硅需要用氢氟酸来溶解,氢氟酸会对仪器的主要部件腐蚀。请问各位有没有更好的测试方法?现在试过用XRF测试,但是压片压不了,氮化硅粉末太细了。

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卡拉果胶

银虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★
AP1009219(冰点降温代发): 金币+3 2017-09-12 10:34:51
有个过程叫做赶酸,先加氢氟酸消解,再加硝酸赶酸,怕氢氟酸赶不完全,就多加几次硝酸赶酸。最后稀释定容分析。你随便找个测土壤的金属含量的国标,基本都有消解赶酸步骤。
4楼2017-09-11 15:29:20
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人无远虑

铁虫 (初入文坛)

将测试液稀释后再测量
孤独是一个人的狂欢,狂欢是一群人的寂寞。
2楼2017-07-13 14:34:48
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AP1009219

金虫 (初入文坛)

引用回帖:
2楼: Originally posted by 人无远虑 at 2017-07-13 14:34:48
将测试液稀释后再测量

稀悉也是含氢氟酸呢,会对仪器的玻璃有腐蚀。

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3楼2017-09-11 15:13:27
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AP1009219

金虫 (初入文坛)

引用回帖:
4楼: Originally posted by 卡拉果胶 at 2017-09-11 15:29:20
有个过程叫做赶酸,先加氢氟酸消解,再加硝酸赶酸,怕氢氟酸赶不完全,就多加几次硝酸赶酸。最后稀释定容分析。你随便找个测土壤的金属含量的国标,基本都有消解赶酸步骤。

好的,谢谢啦。

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5楼2017-09-12 09:50:45
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