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薄膜样品用粉末XRD是不是测不出来峰? 已有2人参与
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我用磁控溅射,镀了一层薄膜,拿到粉末XRD去测一下镀的成分有没有发生变化,结果测出来的图和普通的载玻片图是一样的… 难道是薄膜样品不应该用粉末XRD测么? 如果这样的话,应该用什么样的XRD呢? 发自小木虫IOS客户端 |
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