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新虫 (小有名气)

[求助] 薄膜样品用粉末XRD是不是测不出来峰? 已有2人参与

我用磁控溅射,镀了一层薄膜,拿到粉末XRD去测一下镀的成分有没有发生变化,结果测出来的图和普通的载玻片图是一样的…

难道是薄膜样品不应该用粉末XRD测么?

如果这样的话,应该用什么样的XRD呢?

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匿名

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2楼2017-02-27 22:08:13
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192837465

新虫 (小有名气)

送红花一朵
引用回帖:
2楼: Originally posted by lich666 at 2017-02-27 22:08:13
太薄了,样品太少,衍射弱,所以没峰。

是的啊!我怎么就没想起来…谢谢您~

送上小红花一朵~

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3楼2017-02-28 12:38:05
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lileill

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
3楼: Originally posted by 192837465 at 2017-02-28 12:38:05
是的啊!我怎么就没想起来…谢谢您~
送上小红花一朵~
...

我做磁控溅射镀膜也遇到了测不出XRD的问题,请问问题解决了吗,是否是因为样品太薄呢?
4楼2017-08-17 09:29:10
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AllToo

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

薄膜分析建议用GISAXS。
Modeling_X-Ray_data_in_all_type![alltooxray@126.com]
5楼2017-08-17 11:35:35
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