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maike01金虫 (正式写手)
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【求助】 关于紫外-可见测材料的带隙
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| 紫外可见用来测半导体材料的带隙好像已经比较成熟了，要是直接带隙，通过曲线斜率就可以经验的求出样品的带隙，要是间接带隙的话，曲线就会有好几个不同的斜率，那么最后要求材料的带隙应该怎么办呢？好像不是取的几个斜率的平均值，但是不知道到底是怎么取的，不明白，还请大家指点一下，十分感谢大家！ |
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