| 查看: 180 | 回复: 0 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
maike01金虫 (正式写手)
|
[交流]
【求助】 关于紫外-可见测材料的带隙
|
||
| 紫外可见用来测半导体材料的带隙好像已经比较成熟了，要是直接带隙，通过曲线斜率就可以经验的求出样品的带隙，要是间接带隙的话，曲线就会有好几个不同的斜率，那么最后要求材料的带隙应该怎么办呢？好像不是取的几个斜率的平均值，但是不知道到底是怎么取的，不明白，还请大家指点一下，十分感谢大家！ |
回复此楼» 猜你喜欢
交叉科学部支持青年基金，对三无青椒是个机会吗？
已经有5人回复
-
国家基金申请书模板内插入图片不可调整大小?
已经有6人回复
-
招博士
已经有6人回复
-
限项规定
已经有8人回复
-
国家级人才课题组招收2026年入学博士
已经有5人回复
-
Fe3O4@SiO2合成
已经有6人回复
-
青年基金C终止
已经有4人回复
-
青椒八年已不青，大家都被折磨成啥样了？
已经有7人回复
-
26申博求博导推荐-遥感图像处理方向
已经有4人回复
-
西南交通大学国家级人才团队2026年博士研究生招生（考核制）—机械、材料、力学方向
已经有3人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
