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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料物理 » 求问：薄膜成分深度检测方法。
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niuchaonan

银虫 (正式写手)

[交流] 求问：薄膜成分深度检测方法。

有一个铝合金试样，表面镀2微米铜，想检测一下镀层与基体之间的元素成分，目前查阅文献知道XPS可以做深度方向的成分检测，想问一下XRF可以做吗？
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1楼 2016-12-27 14:24:15
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caiqi

至尊木虫 (职业作家)
★
niuchaonan(金币+1): 谢谢参与
带能谱的断面扫描或透射电镜吧

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8楼2016-12-27 14:50:03
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小卉leaf

金虫 (著名写手)
★
niuchaonan(金币+1): 谢谢参与
AES饿歇能谱

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13楼2016-12-27 15:06:42
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chuyp7楼
2016-12-27 14:47   回复  
niuchaonan(金币+1): 谢谢参与
。 发自小木虫Android客户端
spssll9楼
2016-12-27 14:53   回复  
niuchaonan(金币+1): 谢谢参与
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黄玫瑰vip10楼
2016-12-27 15:02   回复  
niuchaonan(金币+1): 谢谢参与
。 发自小木虫Android客户端
zhchzhsh207611楼
2016-12-27 15:05   回复  
niuchaonan(金币+1): 谢谢参与
祝福宝。 发自小木虫Android客户端
阳雪儿12楼
2016-12-27 15:06   回复  
niuchaonan(金币+1): 谢谢参与
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像风一样消失14楼
2016-12-27 15:09   回复  
niuchaonan(金币+1): 谢谢参与
b 发自小木虫Android客户端
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