[求助] nanoscope analysis分析处理薄膜的AFM图 已有2人参与

关于薄膜AFM图的问题，我用nanoscope软件直接读取spm后缀的文件得到图像，然后怎么分析呢，请教一下大家几个问题： 1什么情况下才需要做flatten平滑呢？不会导致数据失真吗？ 2用roughness命令得到的粗糙度值Ra和Rq用哪个呢，百度文库有简单教程Ra/Rq不是说它们比值吧，这个符号/在这里是或者的意思吧？ 3用particle analysis命令直接（不修改其它参数）得到的height mean值和diameter mean默认值可以拿来用吗？更改threshold height和feature direction这些值都会变，这两项是什么意思呢？这里的height mean值和diameter mean默认值不是整个测试范围内样品的值吧，还是说是某个门槛高度以上的薄膜颗粒或者晶粒的值呢？ particle analysis.PNG roughness.PNG 捕获.PNG 三维.PNG

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薄膜材料和器件表征

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