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赫门楼木虫 (小有名气)
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nanoscope analysis分析处理薄膜的AFM图 已有2人参与
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关于薄膜AFM图的问题，我用nanoscope软件直接读取spm后缀的文件得到图像，然后怎么分析呢，请教一下大家几个问题： 1什么情况下才需要做flatten平滑呢？不会导致数据失真吗？ 2用roughness命令得到的粗糙度值Ra和Rq用哪个呢，百度文库有简单教程Ra/Rq不是说它们比值吧，这个符号/在这里是或者的意思吧？ 3用particle analysis命令直接（不修改其它参数）得到的height mean值和diameter mean默认值可以拿来用吗？更改threshold height和feature direction这些值都会变，这两项是什么意思呢？这里的height mean值和diameter mean默认值不是整个测试范围内样品的值吧，还是说是某个门槛高度以上的薄膜颗粒或者晶粒的值呢？  particle analysis.PNG  roughness.PNG  捕获.PNG  三维.PNG |
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 薄膜材料和器件表征 |
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