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薄膜热物性测试
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薄膜综合物性测试,可同步测量热导,塞贝克,电阻率,霍尔,薄膜尺寸30纳米~30微米,样品面积约25mm?。需要把样品制备到测试芯片上。仪器linseis德国。我是linseis的人,可以帮各位同仁安排测试。坐标最好北京,山东,河南,内蒙 发自小木虫IOS客户端 |
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