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薄膜热物性测试
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薄膜综合物性测试，可同步测量热导，塞贝克，电阻率，霍尔，薄膜尺寸30纳米～30微米，样品面积约25mm?。需要把样品制备到测试芯片上。仪器linseis德国。我是linseis的人，可以帮各位同仁安排测试。坐标最好北京，山东，河南，内蒙 发自小木虫IOS客户端 |
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