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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 晶体解析 » 碳化硅籽晶
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韩家贤

铁虫 (小有名气)

[求助] 碳化硅籽晶 已有2人参与

碳化硅籽晶的碳面和硅面怎样判断或怎样检测分析

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1楼 2016-11-23 22:06:24
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yousyunnsei

捐助贵宾 (职业作家)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
碳面和硅面可以根据大小边来判断，没有大小边的话，一般要做激光标识。如果没有大小边，也没有激光标识，那么只有用XRD来判断啦。

检测的话，需要看结晶缺陷，如微管数量，是否有划痕等等。可以和我私下交流。
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韩家贤
使人成熟的不是岁月，而是经历。
2楼2016-11-23 22:47:46
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韩家贤

铁虫 (小有名气)
送红花一朵
引用回帖:
2楼: Originally posted by yousyunnsei at 2016-11-23 22:47:46
碳面和硅面可以根据大小边来判断，没有大小边的话，一般要做激光标识。如果没有大小边，也没有激光标识，那么只有用XRD来判断啦。

检测的话，需要看结晶缺陷，如微管数量，是否有划痕等等。可以和我私下交流。

我之前用XRD测过，只有一个大点和一个小点的峰，好像不太正常，还有XRD得到的是三位晶面指数(xxx),而硅面和碳面是四位晶面指数(0001)和(000-1)，麻烦请教哈，这是怎么回事？

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韩家贤
3楼2016-11-24 09:46:09
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韩家贤

铁虫 (小有名气)
你有碳化硅籽晶的测量所需的X射线摇摆曲线参数，例如θ和2Θ？

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4楼2016-11-24 09:47:51
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韩家贤

铁虫 (小有名气)
送红花一朵
引用回帖:
3楼: Originally posted by 韩家贤 at 2016-11-24 09:46:09
我之前用XRD测过，只有一个大点和一个小点的峰，好像不太正常，还有XRD得到的是三位晶面指数(xxx),而硅面和碳面是四位晶面指数(0001)和(000-1)，麻烦请教哈，这是怎么回事？
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我之前用XRD测过，只有一个大点和一个小点的峰，好像不太正常，还有XRD得到的是三位晶面指数(xxx),而硅面和碳面是四位晶面指数(0001)和(000-1)，麻烦请教哈，这是怎么回事？

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5楼2016-12-04 20:55:43
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zn1986

捐助贵宾 (初入文坛)

【答案】应助回帖

1.破坏性检测：通过湿法腐蚀，C面和Si面腐蚀后形貌不同；2.非破坏性检测：用AFM检测粗糙度，Si面明显比C面小；
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6楼2017-01-03 10:22:12
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