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如何利用AFM NanoScope Analysis软件分析材料的力学模量？ 已有2人参与
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如何利用AFM NanoScope Analysis软件分析材料的力学模量？大家有没有简易版的教程呀，跪谢~ |
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shencai
新虫 (小有名气)
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- 注册: 2005-12-21
- 性别: MM
- 专业: 固体与表面物理化学
2楼2016-11-14 23:37:02
【答案】应助回帖
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先弱弱的问一下，你存有PF QNM模式下的原始文件吗？若有，你需要三个参数去做Data Fitting。 楼上达人也提到了，在做AFM时，你要通过一些列的校准，得到三个主要参数，才可以最后在离线软件或测试时得到模量分布图。 我记忆中，校准分为三步： 1. 测Deflection Sensitivity，可使电压信号变成位移量； 2. 测探针的Spring Constant，可使位移信号变成力的信息； 3. 估测针尖的Tip Radius，通过计算可得到Reduced Young's Modulus。 有了这个大纲，再去看看PF QNM那章（约80页），你有更多心得。或者，找Bruker工程师培训。 祝好运！ |
3楼2016-11-17 13:33:49
4楼2019-09-26 15:16:09
