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如何利用AFM NanoScope Analysis软件分析材料的力学模量? 已有2人参与
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如何利用AFM NanoScope Analysis软件分析材料的力学模量?大家有没有简易版的教程呀,跪谢~![]() ![]() ![]() |
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shencai
新虫 (小有名气)
- 应助: 3 (幼儿园)
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- 在线: 73.7小时
- 虫号: 141394
- 注册: 2005-12-21
- 性别: MM
- 专业: 固体与表面物理化学
2楼2016-11-14 23:37:02
【答案】应助回帖
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先弱弱的问一下,你存有PF QNM模式下的原始文件吗?若有,你需要三个参数去做Data Fitting。 楼上达人也提到了,在做AFM时,你要通过一些列的校准,得到三个主要参数,才可以最后在离线软件或测试时得到模量分布图。 我记忆中,校准分为三步: 1. 测Deflection Sensitivity,可使电压信号变成位移量; 2. 测探针的Spring Constant,可使位移信号变成力的信息; 3. 估测针尖的Tip Radius,通过计算可得到Reduced Young's Modulus。 有了这个大纲,再去看看PF QNM那章(约80页),你有更多心得。或者,找Bruker工程师培训。 祝好运! |
3楼2016-11-17 13:33:49
4楼2019-09-26 15:16:09












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