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【求助】关于测电容
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一些电容测量方法及其ATE实现 对于ATE而言，较为简单易行的电容测量方法是恒流放（充）电，或是恒压充（放）电的方法： II S-MHLh:f 1. 恒流放电_ b[(dY.S\ 因为Q = C*V = I*T，所以C = I*T/V。用ATE的driver将电容充到某一电压后，关断driver，利用可编程的Isink为电容放电，通过comparator比较，多次search获取时间。4|8]+v$oB0J:V 2. 恒压充电（RC时间常数法） 2W'~{ o7C)zS 在电容上串联一个电阻到driver（也可只利用driver的输出电阻，视情况而定），在某一时刻driver给出一个电压上升；在被测电容与电阻的连接点用另一通道search电容上的电压变化，取得时间常数并计算C。\&HA3Fv3TA P 以上两种做法的优点是在ATE上简单易行--两者都只需用到ATE上常规的数字通道，以及基于search的时间测量功能；另外可以测从几十pF到几百uF的大范围的容值。缺点是精度有限，往往须做校正，比如，RC法的实际计算式为C = A*1/R*T + B，这里A与B分别是对直线的斜率与零位偏移的校正，其中A需用标准电容校正，B可以用开路校正。F*A xKGy 此外在设计测试参数时可以做一些简单的理论计算，比如对于恒流放电法有，$|!M4M#Aw1}e P+^:w dC = T/V * dI + I/V * dT - I*T/V^2 * dV w P.o"U tX A | dC | < T/V * dI + I/V * dT + I*T/V^2 * dV = C/I * dI + C/T * dT + C/V * dV| wz|jf 在ATE上，一般上式第三项比前两项要小些。在V一定的情况下，前两项的IT相互关联，在此基础上可以进一步计算出I与T之间的一个最佳平衡点，使得C的误差较小。 !Ug)sh0g ufyS m c(y y tM[c 除了上述方法之外，另有一些交流方法，比如自动平衡（auto-balancing）法。 By#r"K)~E  n,{)r0n P/H3p c 这是一个通用的低频交流小信号测量阻抗的方法，优点是精度高，更可排除并联电容的影响。一些低端的LCR meter中用单运放实现了这样的自动平衡电桥，而高端的LCR meter则要复杂得多（可参见US patent #6956380，应用于Agilent的一些LCR meter中）。"EF CI3MX"vN2O 在ATE上的一般的电容测量，可用单运放实现电路（实际上高端LCR meter中的那堆东西也不是一般人随便能搭出来的）。不过对于测容值过大的电容，因为运放输入电容太大将导致极点向低频方向移动，从而限制了AC频率（为保证运放响应的线性，AC频率更是远低于极点频率）。另外，AWG发生的信号中不可避免的有高次谐波，其在极点附近可能使运放输出端电压峰峰值偏离预期，这种情况下可利用ATE的FFT或DFT功能仅获得AC频率上的电压幅度，排除其它频率上的干扰。 pEj x I3D*@6H(N 参考：http://bbs.dicder.com/archiver/index.php?tid-2718.html |
3楼2009-02-24 13:35:03
2楼2008-12-05 13:41:18
