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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料物理 » 如何测量薄膜的晶界特性？
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maxjing

铁杆木虫 (著名写手)

[求助] 如何测量薄膜的晶界特性？ 已有1人参与

如何测量薄膜的晶界特性？
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1楼 2016-09-27 14:06:44
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maxjing

铁杆木虫 (著名写手)
引用回帖:
4楼: Originally posted by kangye_1989 at 2016-09-28 08:12:53
场发射SEM，多选几个区域进行拍摄，...

这个能出各晶粒间的偏转角度统计结果吗？能露下您是什么样的SEM设备吗？可有成功案例？
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yes
5楼2016-09-28 08:48:41
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kangye_1989

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
晶界特性？是要观察晶界么，AFM，SEM都可以，TEM也是可以个就是制样比较麻烦
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2楼2016-09-27 17:19:13
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maxjing

铁杆木虫 (著名写手)
引用回帖:
2楼: Originally posted by kangye_1989 at 2016-09-27 17:19:13
晶界特性？是要观察晶界么，AFM，SEM都可以，TEM也是可以个就是制样比较麻烦

我要看的是薄膜的晶界特性，薄膜晶粒大小约为30nm,并且不是看一个晶界就可以，而是要对这个薄膜中的晶界有一定程度的统计，要具有普遍性。阁下可有什么高招？赐教。
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yes
3楼2016-09-27 18:30:46
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kangye_1989

木虫 (著名写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by maxjing at 2016-09-27 18:30:46
我要看的是薄膜的晶界特性，薄膜晶粒大小约为30nm,并且不是看一个晶界就可以，而是要对这个薄膜中的晶界有一定程度的统计，要具有普遍性。阁下可有什么高招？赐教。...

场发射SEM，多选几个区域进行拍摄，
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4楼2016-09-28 08:12:53
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