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maxjing

铁杆木虫 (著名写手)

[求助] 如何测量薄膜的晶界特性? 已有1人参与

如何测量薄膜的晶界特性?
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yes
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kangye_1989

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
晶界特性?是要观察晶界么,AFM,SEM都可以,TEM也是可以个就是制样比较麻烦
2楼2016-09-27 17:19:13
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maxjing

铁杆木虫 (著名写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by kangye_1989 at 2016-09-27 17:19:13
晶界特性?是要观察晶界么,AFM,SEM都可以,TEM也是可以个就是制样比较麻烦

我要看的是薄膜的晶界特性,薄膜晶粒大小约为30nm,并且不是看一个晶界就可以,而是要对这个薄膜中的晶界有一定程度的统计,要具有普遍性。阁下可有什么高招?赐教。
yes
3楼2016-09-27 18:30:46
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kangye_1989

木虫 (著名写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by maxjing at 2016-09-27 18:30:46
我要看的是薄膜的晶界特性,薄膜晶粒大小约为30nm,并且不是看一个晶界就可以,而是要对这个薄膜中的晶界有一定程度的统计,要具有普遍性。阁下可有什么高招?赐教。...

场发射SEM,多选几个区域进行拍摄,
4楼2016-09-28 08:12:53
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maxjing

铁杆木虫 (著名写手)

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4楼: Originally posted by kangye_1989 at 2016-09-28 08:12:53
场发射SEM,多选几个区域进行拍摄,...

这个能出各晶粒间的偏转角度统计结果吗?能露下您是什么样的SEM设备吗?可有成功案例?
yes
5楼2016-09-28 08:48:41
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kangye_1989

木虫 (著名写手)

引用回帖:
5楼: Originally posted by maxjing at 2016-09-28 08:48:41
这个能出各晶粒间的偏转角度统计结果吗?能露下您是什么样的SEM设备吗?可有成功案例?...

你要是做偏转角的话,估计是要上TEM了,做高分辨的,
6楼2016-09-28 12:29:55
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