| 查看: 719 | 回复: 1 | ||
[求助]
衡量固态硬盘寿命的参考参数有哪些
|
|
我最近在做与固态硬盘相关的一个课题，但是因为知识的限制，我对硬盘内部构造了解不多，想在此请教懂固态硬盘内部构造的人两个问题： 1、硬盘的寿命主要是受什么因素的影响，可以由什么参数来衡量。我在网上看见可以使用软件测试，但是我想通过实验来进行实际的测量，目前想过电阻以及温度或者裂痕变化，想问一下有没有其他比较准确的参数来衡量硬盘的性能。 2、硬盘内部的芯片很多，我查过有主控芯片、flash芯片、部分硬盘还有存储芯片，如果可以测温度和电阻的话，那么到底应该测试那一块呢。（网上查资料显示主控芯片最重要，但是flash芯片最容易坏掉，但是我不知道这是否准确）； |
回复此楼» 猜你喜欢
核磁分析软件MestReNova打开文件时报错
已经有0人回复
-
在职博后不能申请博后基金了，那么在职博后意义何在？
已经有2人回复
-
分析化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有282人回复
-
青岛大学化学化工学院分子测量学研究院2026年招收博士研究生
已经有0人回复
-
香港科技大学（广州）诚招电催化方向博士生（2026秋入学）
已经有0人回复
-
求助Cu2+1O的CIF文件(PDF: 05-0667)
已经有1人回复
-
KAUST（阿卜杜拉国王科技大学）MXene 器件方向博士后招聘
已经有0人回复
-
沙特阿拉伯阿卜杜拉国王科技大学（KAUST）电池方向博士后招聘
已经有0人回复
-
福州大学新能源材料与工程研究院招收2026年入学博士
已经有0人回复
2楼2016-12-14 09:07:40