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衡量固态硬盘寿命的参考参数有哪些
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我最近在做与固态硬盘相关的一个课题，但是因为知识的限制，我对硬盘内部构造了解不多，想在此请教懂固态硬盘内部构造的人两个问题： 1、硬盘的寿命主要是受什么因素的影响，可以由什么参数来衡量。我在网上看见可以使用软件测试，但是我想通过实验来进行实际的测量，目前想过电阻以及温度或者裂痕变化，想问一下有没有其他比较准确的参数来衡量硬盘的性能。 2、硬盘内部的芯片很多，我查过有主控芯片、flash芯片、部分硬盘还有存储芯片，如果可以测温度和电阻的话，那么到底应该测试那一块呢。（网上查资料显示主控芯片最重要，但是flash芯片最容易坏掉，但是我不知道这是否准确）； |
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