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牧书的小女孩

新虫 (初入文坛)

[求助] 衡量固态硬盘寿命的参考参数有哪些

我最近在做与固态硬盘相关的一个课题,但是因为知识的限制,我对硬盘内部构造了解不多,想在此请教懂固态硬盘内部构造的人两个问题:
1、硬盘的寿命主要是受什么因素的影响,可以由什么参数来衡量。我在网上看见可以使用软件测试,但是我想通过实验来进行实际的测量,目前想过电阻以及温度或者裂痕变化,想问一下有没有其他比较准确的参数来衡量硬盘的性能。
2、硬盘内部的芯片很多,我查过有主控芯片、flash芯片、部分硬盘还有存储芯片,如果可以测温度和电阻的话,那么到底应该测试那一块呢。(网上查资料显示主控芯片最重要,但是flash芯片最容易坏掉,但是我不知道这是否准确);
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Rocky123

新虫 (初入文坛)

固态硬盘寿命主要在于P/E cycle,也就是写/擦的次数,另外就是写均衡,冷热数据的问题

发自小木虫IOS客户端
2楼2016-12-14 09:07:40
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