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[交流]
谁能帮我分析一下这两个XRD图谱？
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大家好，我是第一次做XRD图谱，以前不是本专业，所以有点迷惑，我做的是钛材表面生物活性涂层表征，我的问题是： 1、测试时，能直接测，还是需要用薄膜法？老师说直接测试会把我需要测的涂层峰值掩盖。 2、下面连个图，分别是用直接测试和薄膜法测试的TA2型纯钛，未处理的。，哪位大侠能帮我分析一下这两个图谱，用不同方法差别怎么会这么大？谁能分析一下各峰值物相？ 先谢谢大家啦！！ |
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laimin15(金币+3,VIP+0):谢谢你的指点
laimin15(金币+3,VIP+0):谢谢你的指点
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做薄膜样品需要掠入射，就是小角度衍射，最好用小角附件，不过没有也没关系，反正我们自己做的东西都是用一般的XRD直接打（到底什么是薄膜附件我也没见过，只是听X光的老师说过  ）。。你说的“薄膜法”应该是指小角度。小角度掠射的时候X光穿透深度小，这样结果受基体影响比较小。直接测打出来的峰基本都是基体的。 还有就是薄膜最好能厚一点，反正是测结构嘛，实际应用的时候再把厚度降下来。。最好找一本讲材料测试方法的书，一般都会提到怎么做薄膜衍射。 也可以看看《薄膜结构X射线表征》（麦振洪 等, 科学出版社 2007 ） |
8楼2008-11-19 17:12:54