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happinesslyl新虫 (小有名气)
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关于缺陷形成能价带顶的计算 已有1人参与
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根据文献 可以得到 Ef=Etot(defect,q)-Etot(perfect)-∑nu+q(Ef+Ev+V) 其中Ev是完美晶体价带顶能量EVBM. 如文献所说Ev=E(perfect,0)-E(perfect,+1),其中0和+1为完美超胞所带电荷 请问 这里面的+1是不是就是缺陷体系带的电荷q,例如,如果计算q=-1的形成能,则Ev= E(perfect,0)-E(perfect,-1)?还是不论缺陷体系带电量为多少,完美晶格的EVBM都是 Ev=E(perfect,0)-E(perfect,+1)??完美晶格的EVBM不是应该固定的嘛,为什么会和q有关系?文献没看懂向大家求助! 或者有其他简单的计算?(例如从完美超胞的能带中直接读价带顶?可是无论castep和vasp的能带的价带顶都是以fermi能级为基准,那么对于半导体读出的值大多为0。) 到底该怎么算Ev呢? 还请大神帮帮忙啊! 非常感谢!!! 发自小木虫Android客户端 |
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带电掺杂体系形成能 |
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happinesslyl
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4楼2016-08-14 12:01:36
happinesslyl
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2楼2016-08-14 11:22:50
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3楼2016-08-14 11:26:02
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